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INTERCONNECT是Ansys Lumerical的光子集成電路仿真器，可驗(yàn)證多模、雙向和多通道PIC。在通過分層原理圖編輯器中創(chuàng)建項(xiàng)目時，用戶可以使用豐富的基本元件庫以及指定代工廠的PDK元件進(jìn)行時域或頻域分析。
▌規(guī)格概要
●?分層原理圖設(shè)計(jì)
●?同時支持GUI和Lumerical腳本編輯
●?頻域分析
●?瞬態(tài)塊分析
●?瞬態(tài)樣本仿真
●?支持多模式和多通道
●?混合信號描述
●?電光協(xié)同仿真
●?參數(shù)掃描
●?統(tǒng)計(jì)分析
●?緊湊庫模型導(dǎo)入
●?行波激光器模型
▌INTERCONNECT的主要應(yīng)用
●?光收發(fā)器
●?WDM系統(tǒng)
●?高級調(diào)制格式
●?調(diào)制器
●?復(fù)雜光纖
●?光開關(guān)
●?緊湊模型庫開發(fā)
●?激光器建模
●?光纖和EDFA中的光傳播
●?信號處理
●?傳感器
●?激光雷達(dá)
▌主要特點(diǎn)
PIC仿真與設(shè)計(jì)
用戶可使用INTERCONNECT的分層原理圖編輯器來設(shè)計(jì)和仿真光子集成線路。INTERCONNECT提供包括頻域分析，瞬態(tài)采樣模式仿真和瞬態(tài)模塊模式仿真。產(chǎn)品提供精密的可視化和數(shù)據(jù)分析工具，支持參數(shù)掃描和設(shè)計(jì)優(yōu)化。
EDA與PDA互操作性
用戶可以結(jié)合熟悉的主流EDA設(shè)計(jì)工具和工作流程完成仿真和優(yōu)化設(shè)計(jì)，以加快設(shè)計(jì)速度并提高可靠性。
統(tǒng)計(jì)分析
可以進(jìn)行角分析，在建模過程考慮工藝變化對集成芯片性能的影響?？蛇M(jìn)行蒙特卡羅分析，考慮工藝變化來評估芯片的性能并改善良率。
CML開發(fā)與分發(fā)
INTERCONNECT與Lumerical的器件級工具結(jié)合起來，可支持PIC仿真和設(shè)計(jì)者完成緊湊模型庫（CML）的開發(fā)與發(fā)布。用戶可實(shí)驗(yàn)測量數(shù)據(jù)，以及使用Lumerical器件級多物理仿真產(chǎn)品獲得的準(zhǔn)確仿真結(jié)果相結(jié)合，即可完成一個CML的創(chuàng)建。
PIC元件庫
INTERCONNECT提供豐富的標(biāo)準(zhǔn)庫，包含大量有源和無源光電器件模塊，與補(bǔ)充擴(kuò)展元件庫一起，共同完成仿真并提供分析結(jié)果。INTERCONNECT提供兩個擴(kuò)展庫：
●用于激光器建模的擴(kuò)展元件庫
●用于高級系統(tǒng)建模的擴(kuò)展元件庫，包括復(fù)雜的光纖，光放大器，F(xiàn)EC編碼和均衡模型
