Tanner Calibre One與Calibre的功能、技術(shù)、內(nèi)核及設(shè)計(jì)套件完全相同，是基于Tanner流程的Calibre。Tanner Calibre One和Tanner的前端設(shè)計(jì)環(huán)境S-Edit以及版圖設(shè)計(jì)環(huán)境L-Edit緊密集成，可以實(shí)現(xiàn)DRC（設(shè)計(jì)規(guī)則檢查）、LVS（芯片原理圖和版圖對(duì)比）及xRC（寄生參數(shù)提取）等功能，且經(jīng)過了主流Foundry廠的驗(yàn)證，是一套***性價(jià)比的Tapout Sign-Off工具。

Tanner Calibre One的具體功能如下：

- 層次式設(shè)計(jì)規(guī)則檢查（nmDRC），可縮短檢查周期，并支持層次式規(guī)則，確保流片成功。

- 寄生參數(shù)提?。▁RC），可以驗(yàn)證物理設(shè)計(jì)對(duì)電氣性能的影響，提升后仿真的精度。

- 層次式設(shè)計(jì)的前（原理圖）后（版圖）端數(shù)據(jù)對(duì)比（LVS）。

- 圖形化的檢查結(jié)果瀏覽環(huán)境（RVE），圖形化展示檢查結(jié)果，并支持報(bào)錯(cuò)與設(shè)計(jì)內(nèi)容之間的交互定位，節(jié)省設(shè)計(jì)改進(jìn)和調(diào)試的時(shí)間。

交互式接口（Interactive），將TannerL-Edit與CalibreOne DRC/LVS/xRC環(huán)境緊密集成，可快速在設(shè)計(jì)中啟動(dòng)檢查任務(wù)。